半導(dǎo)體行業(yè)的廣泛發(fā)展，大大的刺激了市場(chǎng)對(duì)生產(chǎn)產(chǎn)能的需求，在沒(méi)有半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)介入之前，高速帶來(lái)的往往不是高效率，在人力成本不高的地區(qū)，依然有大量的廠企，在招收應(yīng)屆生等無(wú)經(jīng)驗(yàn)的員工來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)工作。
這樣的方式雖然節(jié)約了用人成本，但是重復(fù)繁雜的工序挑戰(zhàn)著工作人員的神經(jīng)，長(zhǎng)期以來(lái)導(dǎo)致出廠的品控把關(guān)成為了很大的難題，雖然以量占的優(yōu)勢(shì)，卻無(wú)法保證質(zhì)的來(lái)源。
此時(shí)有恰逢疫情，人員的大量無(wú)法到崗，傳統(tǒng)的生產(chǎn)模式遇到了前所未有的挑戰(zhàn)，此時(shí)在考慮自動(dòng)化生產(chǎn)后，人們不得不將目光轉(zhuǎn)向了機(jī)器視覺(jué)為代表的半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，前端的高速生產(chǎn)，迫切的需求后端的高速的檢測(cè)。
面對(duì)這個(gè)情況，很多企業(yè)主開(kāi)始關(guān)注一個(gè)問(wèn)題：半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)怎么樣?
隨著半導(dǎo)體的廣泛使用，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的要求越來(lái)越高，精制視覺(jué)半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)可以在半導(dǎo)體的制造過(guò)程中進(jìn)行半導(dǎo)體表面的缺陷檢測(cè)。 對(duì)于半導(dǎo)體的外觀缺陷、尺寸、定位、校準(zhǔn)、質(zhì)量等的檢測(cè)與測(cè)量，精視覺(jué)半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)已在該行業(yè)普遍應(yīng)用。
半導(dǎo)體廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，各類電子產(chǎn)品已經(jīng)發(fā)展成為經(jīng)濟(jì)，在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，半導(dǎo)體表面不可避免地會(huì)出現(xiàn)各種缺陷，直接影響半導(dǎo)體的運(yùn)行性能和壽命。
傳統(tǒng)的人工檢測(cè)方法難以滿足半導(dǎo)體高速發(fā)展、高精度的檢測(cè)需求，精密視覺(jué)利用機(jī)器視覺(jué)技術(shù)檢測(cè)半導(dǎo)體表面缺陷具有無(wú)接觸損傷、檢測(cè)精度高、速度快、穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn)。
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